光耦參數測試儀型號：JFY3010A
JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹 ※概述: JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。 ※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 ※ 測量參數:
參數指標表:
參數項
測試參數
測試條件設置
輸入正向壓降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐壓(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
傳輸比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)
IF:0-400MA IC:0-2.00A
蘇經理
13121899399
