平面光帶檢測(cè)儀 平面光帶檢測(cè)儀 型號(hào)：JC-008用途： 機(jī)械密封件、光學(xué)零件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測(cè)。 功率：20W 電源：220V/50Hz 燈源照射 平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn) *平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái) 測(cè)量被測(cè)量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別于 計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
蘇經(jīng)理
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